测量显微镜 15J工具测量显微镜 精密测量显微镜
更新时间:2010-01-01 00:00:00
价格:¥3200/
类型:光学显微镜
品牌:上光
型号:15J
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详细介绍
编号:0002400
用途
测量显微镜15j,结构简单、操作方便和经久耐用,适用范围广泛,主要用途如下:
1、坐标中测定长度,例如:孔距、基面距离、刻线宽度、键槽宽度、狭缝宽度、内、外圆直径等。
2、转动度盘测定角度,例如:样板、量规钻孔模板及几何形状复杂的零件进行外形和角度测量。
3、用作观察显微镜,以比较法检查工作表面光洁度、鉴定冶金工业的矿石标本、检验纤维及印刷、照相和电子行业的细微作业等。
1、坐标中测定长度,例如:孔距、基面距离、刻线宽度、键槽宽度、狭缝宽度、内、外圆直径等。
2、转动度盘测定角度,例如:样板、量规钻孔模板及几何形状复杂的零件进行外形和角度测量。
3、用作观察显微镜,以比较法检查工作表面光洁度、鉴定冶金工业的矿石标本、检验纤维及印刷、照相和电子行业的细微作业等。
规格:
物 镜 | 目 镜 | 显微镜 | 工作距离 | 视场直径 | ||
放大倍数/数值孔径 | 焦距(mm) | 放大倍数 | 焦距(mm) | |||
2.5×/ 0.08 | 43.40 | 10× | 25.00 | 25× | 58.84 | 5.6 |
10×/ 0.25 | 17.13 | 100× | 7.81 | 1.4 |
测量工作台读数装置主要规格
x—轴移动测量范围:50mm
y—轴移动测量范围:13mm
测微器分度值: 0.01mm
测量台转动范围: 不限
测量台刻度盘分度范围: 0°~360°
测量台刻度盘之分度值: 1°
测量台刻度盘游标读数示值: 6′
测量精度:仪器示值误差±(5+l/15)μm
l 被测件长度,单位mm
仪器示值误差: 包括测量误差与仪器系统误差。
注: 测量地点温度变化20℃±3℃
x—轴移动测量范围:50mm
y—轴移动测量范围:13mm
测微器分度值: 0.01mm
测量台转动范围: 不限
测量台刻度盘分度范围: 0°~360°
测量台刻度盘之分度值: 1°
测量台刻度盘游标读数示值: 6′
测量精度:仪器示值误差±(5+l/15)μm
l 被测件长度,单位mm
仪器示值误差: 包括测量误差与仪器系统误差。
注: 测量地点温度变化20℃±3℃
主要尺寸:
测量台与物镜之间Zui大距离: 80mm
测量工作台直径: 120mm
玻璃工作台直径: 80mm
仪器外形尺寸:(l×b×h) 262×220×325mm
仪器重量: 约10.5㎏
测量工作台直径: 120mm
玻璃工作台直径: 80mm
仪器外形尺寸:(l×b×h) 262×220×325mm
仪器重量: 约10.5㎏
本产品的类型是光学显微镜,品牌是上光,型号是15J,目镜放大倍数是10X,物镜放大倍数是2.5X10X,仪器放大倍数是25X-100X,重量是10500(g),适用范围是广泛,装箱数是1,加工定制是否
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